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普通单面探针台主要从样品一侧进行探针接触，适合多数常规晶圆及芯片电学测试。双面探针台则针对需要从样品正反两面同时接触的特殊应用设计。如果被测器件的电极全部位于同一侧，普通探针台通常就能满足需求；如果测试需要同时连接上下两面的电极，双面探针台则更具针对性。下边我们详细来看一下如何挑选合适自己的双面探针台。
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2026-10
在半导体器件、晶圆测试、光电器件研发以及PCB电路测试过程中，部分样品的电极分布在正反两面，传统单面探针台难以同时满足两侧接触的测试需求。针对这类应用，双面探针台成为科研实验和器件性能表征中的一种重要测试设备。
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2026-10
三温探针台，是半导体晶圆测试领域的精密探针台设备，三温指低温、常温、高温三个温度档位，可在这三种温度环境下完成晶圆芯片的探针接触电性能测试，模拟芯片在实际工况下不同温度环境的工作状态，验证芯片在高低温环境下的可靠性、稳定性，是汽车电子、功率器件、工业芯片、存储芯片研发与CP晶圆测试常用设备。
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2026-10
手动探针台是半导体晶圆、芯片、光电器件及微纳器件研发测试、失效分析、实验室基础测试的核心设备，广泛应用于高校科研、企业研发、样品抽检与小批量测试场景。设备价格受晶圆适配尺寸、定位精度、基础配置、显微镜系统、防震平台、探针座数量，以及射频、高低温、真空、屏蔽等定制化功能模块影响较大，市场配置差异繁杂、报价区间跨度较大。
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2026-10
探针台（ProbeStation）是半导体器件、晶圆及微电子器件测试中的重要设备，主要通过精密运动平台、探针系统、显微观察系统及测试仪器建立被测器件与测试设备之间的电气连接，从而完成电流、电压、电阻、电容、高频特性等参数测试。
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2026-09
森东宝CP300半自动硅光测试探针台面向4—12英寸硅光晶圆研发、中试验证及器件测试场景，针对硅光芯片测试过程中光纤耦合、器件对准及光电协同测试等需求进行设计，为硅光器件研发提供稳定、灵活的晶圆级测试平台。
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2026-09