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自动探针台


CP200半自动探针台

操作简单,快捷,测试精度高,具有MAP显示功能

与测试仪连接后,能自动完成对各种晶体管芯的电参数测试及功能测试。






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CP300 半自动探针台

面向12英寸晶圆高精度测试需求

支持-60℃~300℃超宽温区测试

可满足IC设计验证、失效分析、晶圆级可靠性测试等严苛要求





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全自动探针台

可适应4~12寸晶圆测试

设备简单易用、性能稳定

森东宝全自动晶圆探针台系列产品

具备高精度、高效率、低振动和低噪声等特点

可提供高低温、高电压、低漏电等不同测试环境配置



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