CM-4简易探针台
CM系列探针台可满足I-V/C-V,PIV测试,光电测试等; 外形轻盈,操作方便,价格实惠;
CS-4小型探针台
CS系列探针台最大可用于6英寸以内样品测试; 可满足I-V/C-V,PIV测试,光电测试等。
CL-6系列中端探针台
CL系列探针台可兼容高倍率金相显微镜,可微调移动; 可升级做射频,大电流方面的测试和激光修复应用
CH-8系列综合性分析探针台测试系统
最大可用于12英寸以内样品测试; 操作便捷,功能其全,高效精准; 可满足晶片测试、光电器件测试、PCB/IC测试、射频测试、高压大电流测试等
CH-12 综合性分析探针台测试系统
CW-4系列 IGBT高压大电流测试探针台
最大可用于8英寸以内样品测试; 可升级做射频,大电流方面的测试和激光修复应用
CJ-4高温探针台
最大可用于8英寸以内样品测试 ; 可满足500度高温测试 ; 温度稳定性高 ;兼容IV/CV/RF测试
CT-6高低温探针台
最大可用于12英寸以内样品测试 采用密闭腔结构,屏蔽外部电信干扰同时保持氮气正压环境下样品在低温时无结霜
CGO-高低温真空探针台
温度范围77K-675K(液氮); 可应用于真空及常规环境; 超高温度分辨率; 特殊客制低温系统; 具有极高稳定性
CBTZ半自动探针台
CBTZ自动对位探针台能对晶片实现自动对位测试, 操作简单,快捷,测试精度高,具有MAP显示功能。 与测试仪连接后,能自动完成对各种晶体管芯的电参数测试及功能测试。