GGB射频探针选型 适用40A,40M,50A,67A,110H 以下以40A为例： 40A-GSG-150-P-W 40A指的是探针最高测试的频率能力，40A代表此探针最高可测试到40GHz（40M为超低损耗探针） GSG指的是探针对应的电极数量，可选GSG,GS,SG几种形状。还有多个探针组合的可看dual选型方法 150指的是探针脚间距，G和S间的距离；间距可从25um到2540um可选 P指的是探针头的接头形状，共有12种结构 W指的的是探针针尖的材料，W是钨钢，标准的为铍铜

探针台的使用 1、将样品载入真空卡盘，开启真空阀门控制开关，使样品安全且牢固地吸附在卡盘上。 2、使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台，在显微镜低倍物镜聚焦下看清楚样品。 3、使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台将样品待测试点移动至显微镜下。 4、显微镜切换为高倍率物镜，在大倍率下找到待测点，再微调显微镜聚焦和样品x-y，将影像调节清晰,带测点在显微镜视场中心。 5、待测点位置确认好后,再调节探针座的位置,将探针装上后可眼观先将探针移到接近待测点的位置旁边,再使用探针座X-Y-Z三个微调旋钮,慢慢的将探针移至被测点,此时动作要小心且缓慢，以防动作过大误伤芯片，当探针针尖悬空于被测点上空时，可先用Y轴旋钮将探针退后少许，再使用Z轴旋钮进行下针，最后则使用

探针的分类说明 关于电学量测使用的探外地，一般分为以下几大类，为您做详细的说明 一、概述： 测试针，是用于测试PCBA的一种探针，主要做为电学信号的输入。 表面镀金，内部有平均寿命3万~10万次的高性能弹簧。 探针的材质：W，ReW,A+ 1.目前主要采用的材质为W，ReW,弹性一般，容易偏移，粘金屑，需要多次的清洗，磨损损针长，寿命一般。 2.A+材质的免清针，这种材质弹性较好，测试中不容易偏移，并且不粘金屑，免清洗，因此寿命较长。 二、探针分类 探针根据电子测试用途可分为： A、光电路板测试探针：未安装元器件前的电路板测试和只开路、短路检测探针； B、在线测试探针：PCB线路板安装元器件后的检测探针； C、微电子测试探针：即晶圆测试或芯片IC检测探针； 三、探针主要类型：悬臂探针和垂直探针。 悬臂

尊敬的各位新老顾客： 由于公司的快速发展，公司之前的官网不论在美观程度还是在功能上都已经不能满足各个方面的需求，所以在公司领导的大力支持下，为了给您提供更优质、稳定的服务，我公司将于今日起对公司网站进行升级改版并正式发布,本网站进行了改版升级，给您更清新、更友好的界面，各版块功能设置将更加合理、充实,以便能更好的为客户及广大用户服务。在此改版期间，网站可能会由于初始性能适应等问题导致浏览不便。所以，以上若对各位来访者造成任何的不便，还请谅解。   欢迎您对公司网站改版提出宝贵的意见和建议。   特此敬告。 深圳市森东宝科技有限公司 2016-05-12