探针台的使用 1、将样品载入真空卡盘，开启真空阀门控制开关，使样品安全且牢固地吸附在卡盘上。 2、使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台，在显微镜低倍物镜聚焦下看清楚样品。 3、使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台将样品待测试点移动至显微镜下。 4、显微镜切换为高倍率物镜，在大倍率下找到待测点，再微调显微镜聚焦和样品x-y，将影像调节清晰,带测点在显微镜视场中心。 5、待测点位置确认好后,再调节探针座的位置,将探针装上后可眼观先将探针移到接近待测点的位置旁边,再使用探针座X-Y-Z三个微调旋钮,慢慢的将探针移至被测点,此时动作要小心且缓慢，以防动作过大误伤芯片，当探针针尖悬空于被测点上空时，可先用Y轴旋钮将探针退后少许，再使用Z轴旋钮进行下针，最后则使用

探针的分类说明 关于电学量测使用的探外地，一般分为以下几大类，为您做详细的说明 一、概述： 测试针，是用于测试PCBA的一种探针，主要做为电学信号的输入。 表面镀金，内部有平均寿命3万~10万次的高性能弹簧。 探针的材质：W，ReW,A+ 1.目前主要采用的材质为W，ReW,弹性一般，容易偏移，粘金屑，需要多次的清洗，磨损损针长，寿命一般。 2.A+材质的免清针，这种材质弹性较好，测试中不容易偏移，并且不粘金屑，免清洗，因此寿命较长。 二、探针分类 探针根据电子测试用途可分为： A、光电路板测试探针：未安装元器件前的电路板测试和只开路、短路检测探针； B、在线测试探针：PCB线路板安装元器件后的检测探针； C、微电子测试探针：即晶圆测试或芯片IC检测探针； 三、探针主要类型：悬臂探针和垂直探针。 悬臂