关于我们
科技，溯源美好
成立时间
以上研发经验
专利
合作客户
深圳市森东宝科技有限公司（Cindbest）是一家专业从事探针台设备的研发、生产和销售，并集成代理相关实验室设备的综合性高新技术企业。
质量保证
✅ 10 余年技术沉淀・30 + 项探针台专利
✅ 服务近 200 家高校 / 40 + 科研院所 / 30 + 半导体龙头企业
✅ 自建 1500㎡机加工车间，高精度把控，交付周期更短更快
服务售后
💛组建含经理在内的四对一专属售后群，快速响应，高效解忧。
💛提供产品咨询、方案定制、交付验收、技能培训、全程维护等一站式服务。
💛全流程高效保障，让客户售后体验更省心、更放心、更满意。
产品性价比
⚙️森东宝专注探针台自主研发，支持定制化需求。
⚙️自研核心部件，代理GGB探针、莱宝真空泵，一站式服务更省心。
⚙️高效交付，性价比更突出。
企业发展
📈拥有ISO9001质量管理体系认证、CE产品安全认证。
📈2020年荣获广东省“守合同重信用”企业称号。
📈2023年获批国家高新技术企业资质。
📈2024年获评深圳市专精特新企业。
产品展示
Product
探针台
面向12英寸晶圆高精度测试需求
支持-60℃~300℃超宽温区测试
可满足IC设计验证、失效分析、晶圆级可靠性测试等严苛要求
多倍率光学显示系统
温度范围：8K-300K
极限真空优于5x10-6(Torr)
支持6个探针臂，支持直流，漏电精度优于100fA
支持射频测试，频率范围DC~110GHz
支持光学测试，波长范围：190nm~2200nm
霍尔测量和磁输运测量
磁体类型：超导磁体
可兼容直流测试、光电测试、射频测试、超导垂直磁场测量和低温实验等
CINDBEST CH 型号探针台是一款功能齐全、兼容性强的探针台。
可以满足不同样品的测试，特别是大尺寸样品，如 8 英寸晶圆、12 寸晶圆等。
也可满足不同应用的测试，如直流测试、射频测试等。
测试IV曲线，CV曲线，LIV曲线，RF测试，高压大电流测试
定位精度极高
异质结构建可控
低维材料异质结器件转移系统
低维材料异质结器件转移系统
EMMI光子微漏电定位分析系统设备是集成电路失效分析中的重要分析工具，漏电定位对于失效分析者而言是必备工具。
结构紧凑，适用于各种变温测试
温度范围 -196~200℃（300、400、500定制），配液氮制冷模块
真空腔体设计，可通保护气体
4探针，手动定位，标配1.5米同轴测试线缆（同轴公接头）
上位机软件控制
支持改动或定制多探针测试
具有 -196~200℃（300、400、500℃定制）温度范围的高真空腔室;
探针台配件
射频测试探针座
磁性吸附与真空吸附可选
移动精度0.5μm
X-Y-Z移动行程最大可达20mm
0.5μm移动精度
从40A到110H梯度覆盖不同频段
信号传输稳定、反射小，测试精度高
TZA110-A-GSG-100-40
低噪声、高灵敏度测试
超高输入阻抗，信号无衰减
高阻抗有源探针
满足高低温全场景测试需求
采用高效制冷与加热一体化技术
镀镍/镀金/环形/多空高低温真空吸附卡盘
脚撑/脚轮可选，灵活适配
内芯蜂窝支撑，防震性能优异
防震桌
高压1000V
可耐最大电流10A
漏电精度低于100fA
建议搭配CB-40-T等级或以上精度探针座
1.8m三轴双屏蔽线缆，配三轴公接头（可根据客户测试仪器进行转接）
漏电精度低于100fA
解决方案
Solution
硬件层采用PI高精度六轴和压电陶瓷高速对光扫描方案与行业领先解决方案保持一致
森东宝CP200/CP300是面向硅光芯片/晶圆级的半自动/全自动探针台解决方案，主打高精度光电耦合+IV/CV+射频+霍尔+激光修复一体化测试，适配4–12英寸硅光晶圆与芯片，覆盖研发、中试及量产CP/FT全流程。
IV/CV DC testing
探针台IV/CV直流测试的核心是通过探针建立电学连接，配合测试仪器对半导体器件进行电流-电压（IV）特性与电容-电压（CV）特性的精准测量，以评估器件性能与可靠性。
Optoelectronic Measurements
探针台光电测试的核心是构建“光-电”转换与探测闭环，通过精准控制的光照条件和稳定的电学探针接触，测量光电器件在光激发下的电学响应，以此评估其光电转换效率与性能。
Laser Repair
探针台激光修复测试的核心是精准定位缺陷并实现 targeted 修复。具体而言，是通过探针台的高精度定位系统，结合显微镜等光学观测设备，准确找到半导体器件上的缺陷位置，然后利用激光束对缺陷部位进行修复操作，如熔断多余连接、修复短路、调整电阻值或进行材料沉积等，以恢复器件的正常功能。
Hall Test
探针台霍尔测试解决方案是半导体材料与器件电学特性表征的核心技术，通过整合精密机械操控、稳定磁场供给、精准环境控制及智能信号分析，实现对载流子浓度、迁移率、导电类型等关键参数的非破坏性精准测量。
RF testing
探针台射频测试解决方案的核心，是在晶圆级实现射频信号的精准传输、无失真测量与系统级误差校准，通过整合精密机械、高频信号链路与智能校准技术，解决高频下趋肤效应、阻抗失配、寄生干扰等痛点，最终获取被测器件（DUT）的S参数、功率、相位等关键射频特性
服务支持
Service
2026-08-31
28
2026-08
28
2026-08
在半导体器件、光电子材料的电学测试领域，探针台是芯片性能表征必不可少的核心设备。手动探针台与全自动探针台作为两大主流品类，核心区别集中在操作方式、效率、精度依赖和适用场景四个方面，二者互补适配不同的测试需求，无绝对优劣之分。
27
2026-08
在半导体射频、微波、高频芯片测试场景中，射频探针是实现晶圆级、器件级高精度在片测试的核心关键部件，也是半自动、全自动探针台的核心配套组件。它主要用于抓取、传输、处理高频射频信号，能够在不损伤被测芯片、不干扰电路性能的前提下，精准捕捉高频信号数据，是射频电路研发调试、性能检测、量产质检不可或缺的精密器件。下面为大家详细科普射频探针的工作原理、核心结构及主流应用场景。
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