Jul 24,2026
GGB射频探针40A-SG-250-C详细介绍
40A-SG-250-C是GGB探针品牌旗下一款高频通用型在片射频测试探针，广泛应用于半导体晶圆、射频器件研发与中试量产测试。以下为该型号探针的详细参数及性能介绍：
一、产品型号参数释义
该探针型号每段字符均对应专属规格参数，具体定义如下：
40A：代表探针基础系列，支持DC~40GHz超宽频率测试范围，标配2.92mm（K型母头）接口，标准50Ω特性阻抗，适配各类主流射频测试仪器。
SG：代表针尖排布方式为Signal-Ground（信号-地）双针结构，适用于单端射频信号测试。区别于GS（地-信号）、GSG（地-信号-地三针差分）布局，SG双针结构专为单信号通道测试场景设计。
250：代表两根针尖的中心间距为250μm（0.25mm），适配对应规格的芯片焊盘、晶圆测试点位。
C：代表标配C型标准安装底座，兼容性极强，可适配市面绝大多数手动、自动射频探针台，安装便捷、适配稳定。
二、核心电气性能（40A系列通用）
本款探针承袭40A系列优异的高频电气性能，测试精度高、稳定性强，核心参数如下：
1、频率范围：覆盖DC~40GHz全频段，全面满足Sub-6G、5G射频前端、微波有源/无源器件的高频测试需求。
2、标准阻抗：采用行业通用50Ω特性阻抗，可完美匹配矢量网络分析仪、信号源等专业射频测试设备，避免阻抗失配造成的测试误差。
3、低损耗性能：全程测试损耗极低，全频段插入损耗＜0.8dB，40GHz极限高频下插入损耗最大不超过1dB；全频段回波损耗＞18dB，4GHz及以下低频段回波损耗优于30dB，有效减少信号反射，保障高频测试的准确性。
4、超高测试重复性：测试重复性指标优于-80dB，多次扎针测试数据偏差极小、一致性高，可充分满足产品研发调试、中试及小批量量产的精准测试要求。
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