Probe Station
CH-8-D
       CINDBEST CH-8-D 双面点针探针台可用于晶圆和PCB板测试,用于需要正面和背面同时扎针,以实现各种光/电性能测试需求的测试设备。该定制探针台具有优良的机械系统,稳定的结构,符合人体工程学,以及多项升级功能。可广泛应用于集成电路、Wafer , LED、LCD、太阳能电池等行业的制造和研究领域。
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技术参数

型号

CH-8-D 双面探针台

台体

chuck尺寸

8英寸

水平旋转

卡盘可以360度旋转,细调精度不大于0.1度,带有锁定旋钮

XY移动行程

8英寸*8英寸

XY移动精度

10um/1um可选

样品固定

样品夹定,尺寸可调;真空吸附固定,卡盘多圈吸附环可独立控制

双面点针平台

气动升降平台升起为双平台,落下可做单平台使用

平台针座数量

单平台最多放置8CB-200针座

卡盘结构

普通/高温/带背电极等结构卡可选择

温控系统

温度范围

室温~300℃ (400℃,500℃可选)

温控精度

0.1℃

温控稳定性

±1℃

温控传感器

100 Ω 铂电阻传感器

正面光学系统

CCD

200W/500W/1200W像素可选(正反面)

显微镜类型

单筒/体视/金相显微镜可选

放大倍率

16X-100X/20X-2000X

显微镜调节

水平方向绕立柱旋转X-Y移动2*2英寸,Z轴行程50.8mm

光源

外置LED环形光源/同轴光源

背面光学系统

显微镜类型

L型单筒显微镜

连续变倍比

6.3:1

放大倍率范围

0.75 – 5X

放大倍率

315X(计算公式:变焦*CCD*显示器)

显微镜调节

万向移动

光源

同轴光源


技术参数

型号

台体配件技术参数

探针座

X-Y-Z移动行程

12*12*12mm

移动精度

10/2/0.7/0.5/0.35um可选

固定方式

磁力吸附/真空吸附可选

探针夹具

线缆

同轴线/三轴线可选

漏电精度

10pA/100fA

探针固定方式

弹簧固定/管状固定

接头类型

BNC/三同轴/香蕉头/鳄鱼夹/接线端子等可选

探针

材质

钨钢/铍铜可选

针尖直径

0.2/1/2/5/10/20/50/100um可选

探针可选配件

屏蔽箱

高压测试配件

光学防震桌

射频测试配件

镀金卡盘

转接头

探针卡夹具

其他

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