探针台
CH-8系列综合性分析探针台测试系统

最大可用于12英寸以内样品测试;

操作便捷,功能其全,高效精准

可满足晶片测试、光电器件测试、PCB/IC测试、射频测试、高压大电流测试等。

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CINDBEST CH-8|8"~12" 综合性分析探针台测试系统



特点/应用

 

  • 最大可用于12英寸以内样品测试

 

  • 同轴丝杠传动结构,线性移动

 

  • 大手柄驱动,操作舒适,无回程差设计

 

  • 针座平台快速、微调升降功能

 

  • 可搭配多种类型显微镜

 

  • 晶片测试、光电器件测试、PCB/IC测试、射频测试、高压大电流测试等

 

  • 结构模块化设计,可无缝升级

 

  • 探针台可根据客户要求定制。



射频探针台,IGBT探针台,变温探针台
◆台体规格
型号 CH-8/CH-12
样品台尺寸 8英寸/12英寸
水平旋转 可360度旋转,可微调15度,精度0.1度,带角度锁死装置
X-Y移动行程 8英寸*8英寸/12英寸*12英寸
X-Y移动精度 10微米/1微米
样品固定 真空吸附,中心吸附孔,多圈吸附环
针座平台 U型针座平台,最多可放置10个探针座
平台升降 可快速升降6mm/可微调升降25mm
背电极测试 样品台电学独立悬空,4mm插孔可接背电极
外形尺寸 840mm长*600mm宽*700mm高/950mm长*700mm宽*700mm高
重量 约100千克/150千克
◆光学系统
显微镜类型 单筒显微镜/体式显微镜/金相显微镜
放大倍率 16X-200X/20X-4000X
移动行程 X-Y轴行程2英寸*2英寸/水平360度旋转,Z轴行程50.8mm
光源 外置LED环形光源/同轴光源
CCD 200万像素/500万像素/1200万像素
◆定位器
X-Y-Z移动行程 12mm*12mm*12mm
移动精度 10微米/2微米/0.7微米/0.5微米
吸附方式 磁力吸附/真空吸附
线缆 同轴线/三轴线
漏电精度 10pA/100fA/10fA
固定探针 弹簧固定/管状固定
接头类型 BNC/三轴/香蕉头/鳄鱼夹/接线端子
针尖直径 0.2微米/1微米/2微米/5微米/10微米/20微米
针尖材质 钨钢/铍铜
◆可选附件
加热台
显示器
转接头
射频测试配件
屏蔽箱
光学平台
镀金卡盘
光电测试配件
高压测试配件
显微镜快速倾仰装置
激光系统
探针卡夹具


   

PS:探针台可根据客户要求定制。

规格及设计如有更改,恕不另行通知  


 

 

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