CP300系列 |300mm半自动探针台能对晶片实现自动对位测试；
操作简单，快捷，测试精度高，具有MAP显示功能；
与测试仪连接后，能自动完成对各种晶体管芯的电参数测试及功能测试 。
◆特点/应用
1.专为各种晶片上的应用程序而设计
2.兼容扩展升级
3.符合人体工程学
CS-4小型探针台
CS系列探针台最大可用于6英寸以内样品测试； 可满足I-V/C-V，PIV测试，光电测试等。
CM-4简易探针台
CM系列探针台可满足I-V/C-V，PIV测试，光电测试等； 外形轻盈，操作方便，价格实惠。
CL-6系列中端探针台
CL系列探针台可兼容高倍率金相显微镜，可微调移动； 可升级做射频，大电流方面的测试和激光修复应用。
CH-8-D 双面探针台
CINDBESTCH-8-D双面点针探针台可用于晶圆和PCB板测试，用于需要正面和背面同时扎针，以实现各种光/电性能测试需求的测试设备；该定制探针台具有优良的机械系统，稳定的结构，符合人体工程学，以及多项升级功能；可广泛应用于集成电路、Wafer，LED、LCD、太阳能电池等行业的制造和研究领域。
