• 标准陶瓷探针 • 探针末端角度120° • 用于高低温测试
低温陶瓷探针
性能 • 适用频率：DC-100MHz • 击穿电压：大于等于200V • 适用温度范围：0K-573K • 针尖半径：5um/10um/25um可选 • 探针材料：钨，铍铜可选 • 包装：2支1盒
型号
针尖直径
LKZN50R-5-W
5um
LKZN50R-10-W
10um
LKZN50R-25-W
25um
LKZN50R-5-BeCu
LKZN50R-10-BeCu
LKZN50R-25-BeCu
CM-4简易探针台
CM系列探针台可满足I-V/C-V，PIV测试，光电测试等； 外形轻盈，操作方便，价格实惠；
CS-4小型探针台
CS系列探针台最大可用于6英寸以内样品测试； 可满足I-V/C-V，PIV测试，光电测试等。
CL-6系列中端探针台
CL系列探针台可兼容高倍率金相显微镜，可微调移动； 可升级做射频，大电流方面的测试和激光修复应用
CH-8-D 双面探针台
CINDBESTCH-8-D双面点针探针台可用于晶圆和PCB板测试，用于需要正面和背面同时扎针，以实现各种光/电性能测试需求的测试设备。该定制探针台具有优良的机械系统，稳定的结构，符合人体工程学，以及多项升级功能。可广泛应用于集成电路、Wafer，LED、LCD、太阳能电池等行业的制造和研究领域。
