CH-8-D 双面探针台
CINDBESTCH-8-D双面点针探针台可用于晶圆和PCB板测试，用于需要正面和背面同时扎针，以实现各种光/电性能测试需求的测试设备；该定制探针台具有优良的机械系统，稳定的结构，符合人体工程学，以及多项升级功能；可广泛应用于集成电路、Wafer，LED、LCD、太阳能电池等行业的制造和研究领域。
CH-8系列综合性分析探针台测试系统
最大可用于12英寸以内样品测试； 操作便捷，功能其全，高效精准； 可满足晶片测试、光电器件测试、PCB/IC测试、射频测试、高压大电流测试等。
CH-12 综合性分析探针台测试系统
CT-6高低温探针台
最大可用于12英寸以内样品测试； 采用密闭腔结构，屏蔽外部电信干扰同时保持氮气正压环境下样品在低温时无结霜。
CGO-高低温真空探针台
温度范围77K-675K(液氮)； 可应用于真空及常规环境； 超高温度分辨率； 特殊客制低温系统； 具有极高稳定性。
CP200半自动探针台
CP200系列|200mm半自动探针台能对晶片实现自动对位测试 操作简单，快捷，测试精度高，具有MAP显示功能； 与测试仪连接后，能自动完成对各种晶体管芯的电参数测试及功能测试。
低温陶瓷探针
•标准陶瓷探针 •探针末端角度120° •用于高低温测试
EasyZoom超景深数码显微镜
得益于自主研发的先进光学系统，MoticEasyZoom系列超景深数码显微镜可轻松拍出高质 量图像。 强大的多功能物镜，高精度的数码技术结合HDR图像处理技术创造出一个非常优化的观察 系统。通过消除过强的反射光线，只需一键便可以让超高精细的照片呈现在用户面前。
0.5um精度探针座
适用于I-V/C-V/RF/亚微米级测试测试的定位器
0.7μm精度探针座
亚微米级测试
