CH-8系列综合性分析探针台测试系统

最大可用于12英寸以内样品测试； 操作便捷，功能其全，高效精准； 可满足晶片测试、光电器件测试、PCB/IC测试、射频测试、高压大电流测试等

CH-12 综合性分析探针台测试系统

最大可用于12英寸以内样品测试； 操作便捷，功能其全，高效精准； 可满足晶片测试、光电器件测试、PCB/IC测试、射频测试、高压大电流测试等

CT-6高低温探针台

最大可用于12英寸以内样品测试 采用密闭腔结构，屏蔽外部电信干扰同时保持氮气正压环境下样品在低温时无结霜

CGO-高低温真空探针台

温度范围77K-675K(液氮)； 可应用于真空及常规环境； 超高温度分辨率； 特殊客制低温系统； 具有极高稳定性

CP200半自动探针台

CP200系列|200mm半自动探针台能对晶片实现自动对位测试 操作简单，快捷，测试精度高，具有MAP显示功能。 与测试仪连接后，能自动完成对各种晶体管芯的电参数测试及功能测试。

0.5um精度探针座

适用于I-V/C-V/RF/亚微米级测试测试的定位器

0.7μm精度探针座

亚微米级测试

±1μm精度探针座

适用于I-V/C-V测试的微型定位器

10μm精度探针座

基础I-V测试

RF探针座

RF探针座适宜配合高频探针使用，我司CB-100以及CB-200均可做射频探针座.