CINDBEST CH-8-D 双面点针探针台
可用于晶圆和PCB板测试，用于需要正面和背面同时扎针
该定制探针台具有优良的机械系统，符合人体工程学，以及多项升级功能。
CH 系列高端探针台
CH-8-D双面点针探针台适用于晶圆与PCB板测试，可满足正面和背面同时扎针的光/电性能测试需求，广泛应用于集成电路、Wafer、LED、LCD、太阳能电池等行业的产品制造与科学研究领域。
专业支持正面与背面同时扎针，完美适配晶圆、PCB板的各类光电性能综合测试，满足高精度双面测试需求。
搭载优良机械系统，整机结构稳定可靠，运行精度高、稳定性强，可长期满足高强度、高精度测试使用要求。
设备符合人体工程学设计理念，操作便捷舒适，搭配多项功能升级优化，大幅提升测试效率与使用体验。
定制化功能设计，可覆盖集成电路、晶圆、LED、液晶显示器、太阳能电池等多领域测试场景，兼顾生产制造与科研实验需求。
| ◆ 技术参数 | ||
| 型号 | CH-8-D 双面探针台 | |
| ◆ 台体 | ||
| chuck尺寸 | 8英寸 | |
| 水平旋转 | 卡盘可以360度旋转，细调精度不大于0.1度，带有锁定旋钮 | |
| XY移动行程 | 8英寸*8英寸 | |
| XY移动精度 | 10um/1um可选 | |
| 样品固定 | 样品夹定，尺寸可调；真空吸附固定，卡盘多圈吸附环可独立控制 | |
| 双面点针平台 | 气动升降平台升起为双平台，落下可做单平台使用 | |
| 平台针座数量 | 单平台最多放置8个CB-200针座 | |
| 卡盘结构 | 普通/高温/带背电极等结构卡可选择 | |
| ◆ 温控系统 | ||
| 温度范围 | 室温~200℃ (200℃400℃,500℃可选) | |
| 温控精度 | 0.1℃ | |
| 温控稳定性 | ±1℃ | |
| 温控传感器 | 100 Ω 铂电阻传感器 | |
| ◆ 正面光学系统 | ||
| 电荷耦合器件 | 200W/500W/1200W像素可选（正反面） | |
| 显微镜类型 | 单筒/体式/金相显微镜可选 | |
| 放大倍率 | 0.75-5X/16X-100X/20X-2000X | |
| 显微镜调节 | 水平方向绕立柱旋转X-Y移动2*2英寸，Z轴行程50.8毫米 | |
| 光源 | 外置LED环形光源/同轴光源 | |
| ◆ 背面光学系统 | ||
| 显微镜类型 | L型单筒显微镜 | |
| 连续变倍比 | 6.3:1 | |
| 放大倍率范围 | 0.75 – 5倍 | |
| 放大倍率 | 315X（计算公式：变焦*CCD*显示器） | |
| 显微镜调节 | 万向移动 | |
| 光源 | 同轴光源 | |
| ◆ 探针座 | ||
| X-Y-Z移动行程 | 12*12*12㎜ | |
| 移动精度 | 10/2/0.7/0.5μm可选 | |
| 固定方式 | 磁力吸附/真空吸附可选 | |
| 线缆 | 同轴线/三轴线可选 | |
| 漏电精度 | 10pA/100fA | |
| 探针固定方式 | 弹簧固定/管状固定 | |
| 接头类型 | BNC/三同轴/香蕉头/鳄鱼夹/接线端子等可选 | |
| ◆ 探针 | ||
| 材质 | 钨钢/铍铜/镀镍可选 | |
| 针尖直径 | 1/2/5/10/20/50/100μm可选 | |
| ◆ 探针可选配件 | ||
| 屏蔽箱、高压测试配件、光学防震桌、射频测试配件、镀金卡盘、转接头、探针卡夹具、其他 | ||
| PS:探针台可根据客户要求定制。 | ||
| 规格及设计如有更改，恕不另行通知。 | ||
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