CB-40 探针座
基本信息
应用方向
CB-40探针座适用于半导体晶圆测试、芯片在片测量、直流与射频信号测试、实验室精密定位等场景。可搭配各类探针台使用，满足高精度芯片测试与可靠性分析需求。
产品优点
• 多档移动精度可选，满足不同精度测试要求
• 支持直流、射频双场景使用，通用性强
• 线性移动顺滑，四维调节精准，定位稳定
• X-Y-Z大行程调节，适配更多测试点位
• 磁性/真空吸附可选，安装快捷、固定牢固
- 产品描述
- 规格参数
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◆ 探针台配件参数规格 技术参数 参数值 分辨率 0.7 微米 工作距离(X/Y/Z) 12毫米*12毫米*12毫米 固定方式 磁力开关吸附/真空吸附 方向选择 左、右 适用应用 IV/CV、射频、大功率 搭配选项 开尔文夹具 ( 漏电50fA/V )
三轴管状 /三轴弹簧夹具( 漏电100fA/V )
同轴管状 /同轴弹簧夹具( 漏电10pA/V )
射频调节架+射频探针（DC-110GHz）
高压大电流夹具（3KV）