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射频同轴探针


从40A到110H梯度覆盖不同频段

信号传输稳定、反射小,测试精度高






所属分类:

射频探针

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  • 射频同轴探针 | 高频测试探针

    应用方向

    射频同轴探针专为高频、高精度芯片在片测试设计,广泛应用于射频芯片、毫米波器件、微波电路、功率放大器、硅光芯片及高频晶圆测试场景,可实现稳定可靠的高频信号传输与精准电流电压测量。

    产品优点

    超宽频覆盖:
    支持 DC‑40GHz/50GHz/67GHz/110GHz 全频段,满足从低频到毫米波高频测试需求。
    高频高性能:
    插入损耗低(<0.8~1.5dB)、回波损耗优异(>14~18dB),信号传输稳定、反射小,测试精度高。
    接口规格专业:
    搭配 2.92mm/2.4mm/1.85mm/1.0mm 高频连接器,与高频仪器匹配度高,高频性能有保障。
    针脚结构丰富灵活:
    支持 GS/SG/GSG/GSSG/GSGSG 等多种接地信号结构,可适配单端、差分等多种芯片与射频端口测试。

  • ◆ 射频探针参数规格
    技术参数 40A 50A 67A 110H
    频率 DC-40GHz DC-50Hz DC-67GHz DC-110GHz
    连接器 2.92㎜ 2.4㎜ 1.85㎜ 1.0㎜
    针脚结构 GS/SG/GSG/GSSG/GSGSG/GSGGSG/GSGS/SGS
    间距范围 25μm - 2540μm 25μm - 1250μm 25μm- 1250μm 525μm - 1250μm
    插入损耗 <0.8db <1.0db <1.1db <1.5db
    回波损耗 >18db >18db >14db >15db