全部
  • 全部
  • 产品管理
  • 新闻资讯
undefined
undefined
undefined
undefined
undefined
+
  • undefined
  • undefined
  • undefined
  • undefined
  • undefined

CT-8 非真空高低温探针台


CT-8专为8英寸及以内样品高精度测试设计

适用于高低温环境下的晶圆、器件电学与光电性能测试






所属分类:

CT系列非真空高低温

  • 产品描述
  • 规格参数
  • 资料下载
  • 视频
  • CT-8 高低温探针台

    基本信息

    产品型号 CT-8 产品类型 高低温探针台
    适用样品 8英寸及以下 腔体结构 密闭式腔体
    环境保护 氮气正压防结霜、电磁屏蔽

    应用方向

    CT-8高低温探针台专为8英寸及以内样品高精度测试设计,适用于高低温环境下的晶圆、器件电学与光电性能测试,可满足实验室研发、可靠性测试、失效分析等多场景使用需求。

    技术特点

    1. 大尺寸样品兼容

    设备最大可支持8英寸以内样品测试,适配各类晶圆与器件,满足大尺寸样品高低温测试需求。

    2. 密闭腔体抗干扰设计

    采用密闭腔结构,有效屏蔽外部电磁干扰;支持氮气正压环境,确保低温状态下样品无结霜、无凝露。

    3. 优化保温节能结构

    腔体采用优化保温设计,大幅降低液氮消耗量,减少使用成本,提升低温测试效率。

    4. 可升降适配探针卡

    平台支持升降调节,可轻松加装探针卡,适配自动化与多探针批量测试场景。

    CT-8探针台结构特点

  • ◆ 台体规格
    参数项 CT-6 CT-8 CT-12
    样品台尺寸 6英寸 8英寸 12英寸
    水平旋转 可360度旋转,可微调15度,精度0.1度,带角度锁死装置
    X-Y移动行程 6英寸*6英寸 8英寸*8英寸 12英寸*12英寸
    X-Y移动精度 10um/1um
    样品固定 真空吸附,中心吸附孔,多圈吸附环
    针座平台 最多可放置8个探针座
    平台升降 可快速升降10mm/可微调升降10mm
    背电极测试 样品台电学独立悬空,4mm插孔可接背电极
    温度范围 -60℃ ~ 200℃(液氮环境下),-40℃ ~ 200℃(气冷机环境下)
    温控精度 温度分辨率:0.01℃/0.1℃/1℃
    重量 约150千克 约180千克 约180千克
    ◆ 光学系统
    显微镜类型 单筒显微镜/体式显微镜/金相显微镜
    放大倍率 16X-200X/20X-4000X
    移动行程 水平方向绕立柱旋转/XY轴移动4英寸,Z轴行程50.8mm
    光源 外置LED环形光源/同轴光源
    CCD 200万像素/500万像素/1200万像素
    ◆ 定位器
    X-Y-Z移动行程 12mm*12mm*12mm/20mm*20mm*20mm
    移动精度 10um/2um/0.7um/0.5um
    吸附方式 磁力吸附/真空吸附
    线缆 同轴线/三轴线/射频线
    漏电精度 10pA/100fA/10fA
    固定探针 弹簧固定/管状固定
    接头类型 BNC/三轴/香蕉头/鳄鱼夹/接线端子
    针尖直径 1um/2um/5um/10um/20um/50um/100um
    针尖材质 钨钢/铍铜/镀镍
    ◆ 可选附件
    加热台、显示器、转接头、射频测试配件、屏蔽箱、光学平台、镀金卡盘、光电测试配件、高压测试配件、显微镜快速倾仰装置、激光系统、探针卡夹具
    PS:探针台可根据客户要求定制。
    规格及设计如有更改,恕不另行通知。
    版权所有:深圳市森东宝科技有限公司 深圳市森东宝科技有限公司    
    地址: 深圳市龙华区大浪街道新石社区嘉义源数码科技园2号1层A区    
    电话: 0755-29412885    
    手机: 18927474142    
    邮箱: sales@cindbest.com